半導体検査測定特集
半導体検査測定特集
 半導体開発の検査は、半導体チップの品質を保証するために重要な工程です。検査の精度を高めるために、半導体チップは、製造工程の各段階で検査されます。 検査の結果、不良品が見つかった場合は、その半導体チップは製造工程から排除されます。 半導体開発の検査は、半導体チップの品質と製造コストを保証するために重要な工程です。 検査の精度を高めることで、半導体チップの品質が向上し、製造コストが削減されます。 よく利用される検査として、以下のものがございます。 1.外観検査半導体チップの表面に欠陥や異物がないか目視または画像処理技術で検査します。 異物や欠陥が残ったまま製品として出荷されると、製品の性能や信頼性に影響を与える可能性があるため、 半導体開発においては、外観検査が重要な工程となります。 ・目視検査は、検査員がウェーハやチップ表面を直接目視で検査する方法です。 この方法は、検査員の経験と技術に依存するため、検査結果がばらつきやすいというデメリットがあります。 ・画像処理検査は、ウェーハやチップ表面の画像をコンピューターで処理して、異物や欠陥を検出する方法です。 この方法は、検査員の経験や技術に依存しないというメリットがあります。 外観検査には、主に以下の検査項目があります。 異物：ほこり、ゴミ、金属片、異物混入など 欠陥：割れ、欠け、ひび、ゆがみ、汚れなど よく利用される測定器は「電子顕微鏡」など。 2.電気特性検査半導体チップの電気特性が設計通りに動作するかを検査します。電気特性検査は、半導体の品質を保証するために重要な検査です。 電気特性に不良があると、半導体が正常に動作せず、製品の故障や性能低下を引き起こす可能性があります。 電気特性検査の方法は、大きく分けて2つあります。 全数検査：すべての半導体を検査する方法 抽出検査：一部の半導体を検査する方法 電気特性検査には、主に以下の検査項目があります。 動作電圧：半導体に印加される電圧 動作電流：半導体に流れる電流 静電容量：半導体に蓄えられる電荷の量 リーク電流：半導体に流れる不必要な電流 スイッチング速度：半導体が電気信号を切り替える速度 ノイズ耐性：半導体がノイズに耐える能力 信頼性：半導体が一定の条件下で正常に動作する期間 よく利用される測定器は「テスタ」など。 3.機能検査半導体チップが設計通りの機能を果たしているかを検査します。半導体は、電気信号の増幅、変換、記憶などのさまざまな機能を持っています。 これらの機能を正しく発揮するためには、半導体の設計が正しく行われていること、 製造プロセスが適切に行われていることが必要です。 そのために機能検査は欠かすことはできない重要な検査です。 機能検査の方法は、大きく分けて2つあります。 全数検査：すべての半導体を検査する方法 抽出検査：一部の半導体を検査する方法 機能検査は、テストベッドと呼ばれる装置を用いて実施されます。 テストベッドは、半導体に入力信号を与え、出力信号を測定することで、機能を評価します。 機能検査の検査項目は、半導体の用途や機能によって異なります。一般的には、以下のような項目が検査されます。 増幅：入力信号の電圧や電流を増幅する機能 変換：入力信号の形状や周波数を変換する機能 記憶：入力信号を記憶する機能 制御：他の回路や機器を制御する機能 よく利用される測定器は「電圧計・電流計」「オシロスコープ」「ロジックアナライザ」「信号発生器」など。 |
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| コード | 機材名称 型番 | メーカー名 | 販売価格 | お問合せ |
|---|---|---|---|---|
| 3c5142 | 2CH ファンクションジェネレータ DG1022Z | RIGOL | お問合せ下さい |  |
| 3u6525 | アナログテスター SP18S | サンワ | お問合せ下さい | |
| 3u5302 | 電子顕微鏡(デジタルマイクロスコープ) P-400R | ニコン Nikon | お問合せ下さい | |
| 3a0036 | オシロスコープ 54624A | アジレント Agilent | お問合せ下さい | |
※オプション機材につきましては、「在庫お問合せ」よりお問合せくたさい。
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| コード | 機材名称 型番／メーカー名 | お問合せ 販売価格 |
|---|---|---|
| 3c5142 | 2CH ファンクションジェネレータDG1022Z |  |
| RIGOL | ||
| 3u6525 | アナログテスターSP18S | |
| サンワ | ||
| 3u5302 | 電子顕微鏡(デジタルマイクロスコープ)P-400R | |
| ニコン Nikon | ||
| 3a0036 | オシロスコープ54624A | |
| アジレント Agilent |
