デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C (me0261)
仕様: LZ-200C 測定方式: 電磁誘導/高周波渦電流式兼用 測定対象: 磁性体上の非磁性被膜および非磁性金属上の絶縁被膜 測定範囲: ・電磁式:0から1500μmまたは60.00mils ・高周波式:0から800μmまたは32.00mils 測定精度: ・電磁式:15μm未満:±0.3μm、15μm以上:±2% ・50μm未満:±1μm、50μm以上:±3% 分解能: 100μm未満:0.1μm、100μm以上:1.0μm 統計機能: 測定回数・平均値・標準偏差・最大値・最小値・ブロック番号 プローブ: 一点接触低圧式(LEP-20C、LHP-20C) 表示方法: デジタル(LCD、表示最小桁0.1μm) 外部出力: RS-232Cインターフェース(転送速度2400bps) 電源: AC100V(50/60Hz)または電池1.5V(単3アルカリ)本体部×6、プリンタ部×4 寸法・質量: 120(W)×250(D)×55(H)mm,1.0kgケツト科学研究所 kett
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