膜厚計
膜厚計とは膜厚計は、鉄および非鉄金属などの各種被膜を非破壊で測る計測器です。磁性金属と非磁性金属上の被膜厚をプローブの交換で簡単に両方を測れるデュアルタイプ膜厚計、1台で磁性・非磁性金属両方の被膜計測が可能な膜厚計(電磁・渦電流)、コンクリート上の塗装厚やガラス上のゴム厚など非金属上の被膜厚が測れる超音波膜厚計などがあります。下地として、鉄/非鉄素地用、鉄素地用、非鉄素地用、コンクリート/ガラス/他素地用、コンクリート/モルタル素地用などが計測できます。塗装、ライニング、メッキ、陽極酸化被膜、メタリコン、バーカライジグ、酸化膜、溶射膜などに使用します。 |
「膜厚計」の一覧の中で、よく見て頂いている中古計測機は
膜厚計中古計測機器一覧
※オプション機材につきましては、「在庫お問合せ」よりお問合せくたさい。
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コード | 機材名称 型番 | メーカー名 | 販売価格 | -->お問合せ |
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4b3070 | めっき膜厚計 TH-10P | CHUO SEISAKUSHO 中央製作所 | お問合せ下さい | |
4g1434 | 膜厚計(光学式) 1512 | N&K | お問合せ下さい | |
4j0937 | 膜厚計 SWT-9200 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
4g1239 | 蛍光X線膜厚計 SFT9500X | 日立ハイテク Hitachi High-Tech | お問合せ下さい | |
4u4831 | 膜厚測定装置 M6500A | ナノメトリクス | お問合せ下さい | |
5t0326 | ポケットタイプ小型膜厚計 プローブ一体型・USB接続 DUALSCOPE MP0R-FP | お問合せ下さい | ||
4c0659 | 高性能蛍光X線膜厚計 SFT9550X | 日立ハイテクサイエンス | お問合せ下さい | |
4g0818 | 蛍光X線膜厚計 FT9500X | 日立ハイテク HitachiHigh-Tech | お問合せ下さい | |
5f1133 | 蛍光X線膜厚計 X-STRATA960A | オックスフォ-ドインスルメント | お問合せ下さい | |
5f1120 | 蛍光X線膜厚計 XDLM-C4-PCB | フィッシャー・インスルメント | お問合せ下さい | |
5f1118 | 蛍光膜厚測定器 XDL-B-XymZ | フィッシャー・インスルメント | お問合せ下さい | |
5f0959 | 蛍光X線膜厚計 STF-9200 | Sii | お問合せ下さい | |
4u3945 | 透過率/膜厚計測ユニット LV-TFM/MP | ラムダビジョン | お問合せ下さい | |
4b2440 | 非破壊膜厚計 D-10 | ELEC FINE | お問合せ下さい | |
4u3188 | 2次元膜厚分布測定装置 FiDiCa(フィディカ) | JFEテクノリサーチ | お問合せ下さい | |
4u3027 | 膜厚計 TOF-5R | 山文電気 | お問合せ下さい | |
4u2569 | 膜厚計 C13027-11 | 浜松ホトニクス | お問合せ下さい | |
4u1826 | 膜厚計 SWT-8000Ⅱ | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
4b1578 | 赤外線水分 膜厚測定器 FG710e | NDC | お問合せ下さい | |
4b1417 | デュアルタイプ膜厚計 LZ-373 LZ-3730-01 | Kett | お問合せ下さい | |
4u0426 | 膜厚測定装置 NanoSpec/AFT 5100 | ナノメトリクス | お問合せ下さい | |
3u9719 | 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー) XTC/3SXC3S-1000 | INFICON インフィコン | お問合せ下さい | |
3u8852 | 膜厚計(蒸着) SQM-160 | シグマ | お問合せ下さい | |
3u8328 | 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー) XC3S-1000 | INFICON インフィコン | お問合せ下さい | |
4g0531 | 膜厚計 膜厚コントローラ STC-200/SQ | Sycon | お問合せ下さい | |
4g0313 | 膜厚計 M5100A | ナノメトリックス | お問合せ下さい | |
4b0156 | FISCHERSCOPE 蛍光X線膜厚計 XDVM-P | fischer | お問合せ下さい | |
3z0612 | ハンディ型膜厚計 | Helmut Fischer フィッシャー | お問合せ下さい | |
3u7815 | 触針式膜厚器 タリステップ | ランクテーラーボブソン | お問合せ下さい | |
3u7860 | 塗料用膜厚計 モデル455 | エリクセン | お問合せ下さい | |
3u7843 | 膜厚計 ミニテスト 70FN | エレクトロフィジック | お問合せ下さい | |
3u7710 | 水晶膜厚計 XTC/2 757-500-G1 | INFICON インフィコン | お問合せ下さい | |
3u6672 | 膜厚測定装置(ラムダエース) STM-603 | 大日本スクリーン | お問合せ下さい | |
3u6299 | 蛍光X線膜厚計 SFT9500 | SII セイコーインスツル | お問合せ下さい | |
3u6298 | 蛍光X線膜厚計 SFT9200 | SII セイコーインスツル | お問合せ下さい | |
3u4746 | 膜厚計 MiniTest 70FN | エレクトロフィジック | お問合せ下さい | |
3u4474 | 膜厚計 M6100UV-L6 | ナノメトリクス | お問合せ下さい | |
3u4472 | 膜厚計 M6100 | ナノメトリクス | お問合せ下さい | |
3u4378 | 光学式膜厚計 蒸着 LSE-8 | シンクロン | お問合せ下さい | |
3u2290 | 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー) CYG2-1301010 | INFICON インフィコン | お問合せ下さい | |
3u2165 | 膜厚計 スパッタ CRTM-5000 | アルバック Ulvac | お問合せ下さい | |
3u2077 | 蛍光X線膜厚計 CMI 900 | オックスフォード | お問合せ下さい | |
3u2166 | 水晶膜厚計 CRTM-8000 | アルバック Ulvac | お問合せ下さい | |
3u0639 | 膜厚計 345N | エルコメーター | お問合せ下さい | |
3u0636 | 膜厚計 345 NB-MK2 | エルコメーター | お問合せ下さい | |
3u1002 | 膜厚計 7200-2134 | ナノメトリクス | お問合せ下さい | |
3u0061 | 表面膜厚測定器 760 | オックスフォード | お問合せ下さい | |
3m9467 | 電磁式デジタル膜厚計 SDM-3000 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
3n0859 | 膜厚計 LZ-373 | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
3n0858 | 膜厚計 LH-373 | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
3n0857 | 膜厚計 LE-373 | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
3n0856 | 電磁式膜厚計 SP-3300D | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
3n0855 | 電磁式膜厚計 SWT-9000F | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
3n0854 | 電磁式ハンディ型膜厚計 FMP10 | フィッシャーインストルメンツ | お問合せ下さい | |
3n0853 | 蛍光x線膜厚計 FT110A | 日立 HITACHI(日立ハイテク) | お問合せ下さい | |
3n0852 | 渦電流位相式膜厚計 PMP10 | フィッシャーインストルメンツ | お問合せ下さい | |
3e1149 | 膜厚計 ミニテスト650FN | エレクトロフィジック | お問合せ下さい | |
3d0622 | 電磁膜厚計 本体のみ 難有り LE-200C | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
3f0926 | 膜厚計 LZ990 | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
3d0298 | 膜厚計 磁気誘導式 Fe-2.5付き SWT-8200Ⅱ | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
3d0013 | 電磁・渦電流式 デュアルタイプ膜厚計 LZ-200J | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0260 | 電磁式膜厚計 SL-120C SL-120C | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0269 | 電磁膜厚計 LE-300C LE-300C | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0273 | デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MPOR | フィッシャーインストルメンツ | お問合せ下さい | |
me0274 | 超音波膜厚計 LU100 LU100 | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0276 | 電磁膜厚計 L2B L2B | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0277 | デジタル膜厚計 SM1500D | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0275 | 超音波膜厚計 ULT5000 ULT5000 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0272 | デュアルタイプ膜厚計 LZ900J | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0271 | デュアルタイプ膜厚計 LZ330J LZ330J | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0270 | 渦電流式膜厚計 EDY-5000 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0268 | 電磁式膜厚計 SM-1100 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0267 | 膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8200 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0266 | 電磁式膜厚計 Pro-1 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0265 | デュアルタイプ膜厚計 LZ-370 | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0261 | デュアルタイプ膜厚計 LZ-200C | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0264 | デュアルタイプ膜厚計 LZ300C | ケツト科学研究所 kett | お問合せ下さい | |
me0263 | 電磁式膜厚計 Pro-2 Pro-2 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0262 | 膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000II | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい | |
me0259 | デュアルタイプ膜厚計 SWT-9000 | サンコウ電子研究所 | お問合せ下さい |
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コード | 機材名称 型番/メーカー名 | お問合せ 販売価格 |
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4b3070 | めっき膜厚計TH-10P | |
CHUO SEISAKUSHO 中央製作所 | ||
4g1434 | 膜厚計(光学式)1512 | |
N&K | ||
4j0937 | 膜厚計SWT-9200 | |
サンコウ電子研究所 | ||
4g1239 | 蛍光X線膜厚計SFT9500X | |
日立ハイテク Hitachi High-Tech | ||
4u4831 | 膜厚測定装置M6500A | |
ナノメトリクス | ||
4c0659 | 高性能蛍光X線膜厚計SFT9550X | |
日立ハイテクサイエンス | ||
4g0818 | 蛍光X線膜厚計FT9500X | |
日立ハイテク HitachiHigh-Tech | ||
5f1133 | 蛍光X線膜厚計X-STRATA960A | |
オックスフォ-ドインスルメント | ||
5f1120 | 蛍光X線膜厚計XDLM-C4-PCB | |
フィッシャー・インスルメント | ||
5f1118 | 蛍光膜厚測定器XDL-B-XymZ | |
フィッシャー・インスルメント | ||
5f0959 | 蛍光X線膜厚計 STF-9200 | |
Sii | ||
4u3945 | 透過率/膜厚計測ユニットLV-TFM/MP | |
ラムダビジョン | ||
4b2440 | 非破壊膜厚計D-10 | |
ELEC FINE | ||
4u3188 | 2次元膜厚分布測定装置FiDiCa(フィディカ) | |
JFEテクノリサーチ | ||
4u3027 | 膜厚計TOF-5R | |
山文電気 | ||
4u2569 | 膜厚計C13027-11 | |
浜松ホトニクス | ||
4u1826 | 膜厚計SWT-8000Ⅱ | |
サンコウ電子研究所 | ||
4b1578 | 赤外線水分 膜厚測定器FG710e | |
NDC | ||
4b1417 | デュアルタイプ膜厚計LZ-373 LZ-3730-01 | |
Kett | ||
4u0426 | 膜厚測定装置NanoSpec/AFT 5100 | |
ナノメトリクス | ||
3u9719 | 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー)XTC/3SXC3S-1000 | |
INFICON インフィコン | ||
3u8852 | 膜厚計(蒸着)SQM-160 | |
シグマ | ||
3u8328 | 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー)XC3S-1000 | |
INFICON インフィコン | ||
4g0531 | 膜厚計 膜厚コントローラSTC-200/SQ | |
Sycon | ||
4g0313 | 膜厚計M5100A | |
ナノメトリックス | ||
4b0156 | FISCHERSCOPE 蛍光X線膜厚計XDVM-P | |
fischer | ||
3z0612 | ハンディ型膜厚計 | |
Helmut Fischer フィッシャー | ||
3u7815 | 触針式膜厚器タリステップ | |
ランクテーラーボブソン | ||
3u7860 | 塗料用膜厚計モデル455 | |
エリクセン | ||
3u7843 | 膜厚計ミニテスト 70FN | |
エレクトロフィジック | ||
3u7710 | 水晶膜厚計XTC/2 757-500-G1 | |
INFICON インフィコン | ||
3u6672 | 膜厚測定装置(ラムダエース)STM-603 | |
大日本スクリーン | ||
3u6299 | 蛍光X線膜厚計SFT9500 | |
SII セイコーインスツル | ||
3u6298 | 蛍光X線膜厚計SFT9200 | |
SII セイコーインスツル | ||
3u4746 | 膜厚計MiniTest 70FN | |
エレクトロフィジック | ||
3u4474 | 膜厚計M6100UV-L6 | |
ナノメトリクス | ||
3u4472 | 膜厚計M6100 | |
ナノメトリクス | ||
3u4378 | 光学式膜厚計 蒸着LSE-8 | |
シンクロン | ||
3u2290 | 膜厚計(蒸着薄膜コントローラー)CYG2-1301010 | |
INFICON インフィコン | ||
3u2165 | 膜厚計 スパッタCRTM-5000 | |
アルバック Ulvac | ||
3u2077 | 蛍光X線膜厚計CMI 900 | |
オックスフォード | ||
3u2166 | 水晶膜厚計CRTM-8000 | |
アルバック Ulvac | ||
3u0639 | 膜厚計345N | |
エルコメーター | ||
3u0636 | 膜厚計345 NB-MK2 | |
エルコメーター | ||
3u1002 | 膜厚計7200-2134 | |
ナノメトリクス | ||
3u0061 | 表面膜厚測定器760 | |
オックスフォード | ||
3m9467 | 電磁式デジタル膜厚計SDM-3000 | |
サンコウ電子研究所 | ||
3n0859 | 膜厚計LZ-373 | |
ケツト科学研究所 kett | ||
3n0858 | 膜厚計LH-373 | |
ケツト科学研究所 kett | ||
3n0857 | 膜厚計LE-373 | |
ケツト科学研究所 kett | ||
3n0856 | 電磁式膜厚計SP-3300D | |
サンコウ電子研究所 | ||
3n0855 | 電磁式膜厚計SWT-9000F | |
サンコウ電子研究所 | ||
3n0854 | 電磁式ハンディ型膜厚計FMP10 | |
フィッシャーインストルメンツ | ||
3n0853 | 蛍光x線膜厚計FT110A | |
日立 HITACHI(日立ハイテク) | ||
3n0852 | 渦電流位相式膜厚計PMP10 | |
フィッシャーインストルメンツ | ||
3e1149 | 膜厚計ミニテスト650FN | |
エレクトロフィジック | ||
3d0622 | 電磁膜厚計 本体のみ 難有りLE-200C | |
ケツト科学研究所 kett | ||
3f0926 | 膜厚計LZ990 | |
ケツト科学研究所 kett | ||
3d0298 | 膜厚計 磁気誘導式 Fe-2.5付きSWT-8200Ⅱ | |
サンコウ電子研究所 | ||
3d0013 | 電磁・渦電流式 デュアルタイプ膜厚計 LZ-200J | |
ケツト科学研究所 kett | ||
me0260 | 電磁式膜厚計 SL-120CSL-120C | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0269 | 電磁膜厚計 LE-300CLE-300C | |
ケツト科学研究所 kett | ||
me0273 | デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープMPOR | |
フィッシャーインストルメンツ | ||
me0274 | 超音波膜厚計 LU100LU100 | |
ケツト科学研究所 kett | ||
me0276 | 電磁膜厚計 L2BL2B | |
ケツト科学研究所 kett | ||
me0277 | デジタル膜厚計SM1500D | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0275 | 超音波膜厚計 ULT5000ULT5000 | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0272 | デュアルタイプ膜厚計LZ900J | |
ケツト科学研究所 kett | ||
me0271 | デュアルタイプ膜厚計 LZ330JLZ330J | |
ケツト科学研究所 kett | ||
me0270 | 渦電流式膜厚計EDY-5000 | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0268 | 電磁式膜厚計SM-1100 | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0267 | 膜厚計(電磁・渦電流)SWT-8200 | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0266 | 電磁式膜厚計Pro-1 | |
サンコウ電子研究所 | ||
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ケツト科学研究所 kett | ||
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ケツト科学研究所 kett | ||
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ケツト科学研究所 kett | ||
me0263 | 電磁式膜厚計 Pro-2Pro-2 | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0262 | 膜厚計(電磁・渦電流)SWT-8000II | |
サンコウ電子研究所 | ||
me0259 | デュアルタイプ膜厚計SWT-9000 | |
サンコウ電子研究所 |
塗装の厚みを測る意味工業製品は、状態を維持するためにさまざまな工夫を凝らす必要があります。塗装をすることも一つの方法ですが、製品の美観を高めるだけではなく、耐久性を維持するためにも塗装は役立ちます。塗装をすると、塗料が乾燥したのちに膜となって残ることが特徴です。この厚みを一般的に膜厚と呼びますが、正式には塗膜厚と言います。一度塗装をすると、そのままではどの程度塗られたのかが分かりません。耐久性を考えれば一定の厚みがなければ耐えられませんが、あまりに厚くなれば、塗装自体が割れる可能性も出てきます。これは乾燥するときに収縮するためで、必要な厚みを確保する必要があるものの、必要以上の厚さは逆効果となります。さらに製品の膜厚から起こる欠陥は、割れだけではありません。縮みやつや不足、つやの不良、色むらなどが生まれることもあります。そのため、工程的に管理をすることが求められます。 見た目で分かればコントロールできますが、厚みの単位はμmになるので、判別はほぼ不可能です。そこで必要となるのが膜厚計であり、対象となる材料によって使い方が変わってきます。例えば電磁式の膜圧計は、材料が磁石の付くものか付かないものかによっても測定の可否が決まるため、適切な組み合わせと使用方法で計測をすることが大切です。特性についてよく把握し、確実に計測ができる状況を作ることが肝要です。 また、新しい製品だけではなく、既存の製品に対しても現在の膜厚の状況を考える必要があります。すべての物質は製造した状況のまま推移するわけではなく、時間とともに塗装の劣化も進むため、現在の膜厚が本来必要な要件を満たしているかどうかを計測する必要性が生じます。膜厚計は、塗装に対する多くの場面で活躍します。 磁石の力を使う電磁式と電流で測る過流式塗装の塗膜を計測する膜厚計はいくつかの種類があり、それぞれ使い方が異なりますし、対象となる部材も違うため、どんな製品に対して塗装をしたのかが重要です。使われている部材が鉄や鋼、ステンレスの一部を含めた磁性体の場合、磁石を使うことができます。磁石を近づけると一定の強さによって引っ張られますが、この力を利用しているのが電磁式膜厚計です。使い方は、対象となる部分に対してプローブを接触させ、電流の値を測ります。考え方としては単純で、塗膜が薄いのなら、部材との距離が近い分磁石に流れる電流が大きくなります。逆に厚くなれば、磁石を流れる電流量は小さくなります。このような性質を利用して測定する方法です。塗膜を測るというよりも、磁石の力を計り厚みとして換算すると考えれば分かりやすいでしょう。ただし塗膜自体に磁石を引っ張る力が働いていると、正確に計測をすることができません。磁気を帯びた塗料もあることから、どんな材料を使っているのかを事前に把握しておく必要があります。 過流式膜厚計は、部材が磁石に引っ張られない非磁性金属の場合に用いられるタイプです。アルミや銅などが対象となりますが、磁石の代わりにプローブにはコイルが入っています。接触させたときに発生する渦状の電流を測定して、塗膜がどれぐらいの厚みを持つのかを測定する方法です。 部材との距離が近い状態では、金属の表面上に過電流が強く生じますが、厚くなれば弱まる性質を利用します。塗膜は電気を通さないことが条件です。接触式と非接触式もあるため、幅広く使える方法であり、ゴム塗膜といった絶縁性被膜に対しても有効に使えます。 赤外線や超音波などで計測する光を使って測定するのが赤外線塗膜計という膜厚計です。工業分野ではいろいろな光が利用されていますが、赤外線を照射することで得られるスペクトルを分析します。赤外線の吸収率は、素材によって違うところがポイントです。素材と厚さによって、赤外線がどこまで吸収されているのかを計算することで膜厚を算出します。塗膜の色の濁りなど、外的な要因による影響を少なくする方法がとられるようになっています。光ではなく、超音波も利用されています。使い方としては、プローブを接触させるところまでは同じです。プローブからセンサーを発信し、下地に当たって反射する時間によって厚みが分かる仕組みです。この速度は材質によって変わるため、おおよその値を求めて調整をする必要があります。 超音波膜厚計は膜厚をそのまま測るだけではなく、橋梁の鋼材部などで腐食状態を見ることができます。検査をする際、塗装をはがして状況の確認をするわけにはいきませんが、超音波であれば問題なく計測をすることが可能です。膜厚と腐食状態を推定することで、今後の予定を決めることができるでしょう。破壊するわけにはいかない場所で、塗装された部材の現状を見極める際に役立つ計器です。 デュアル式と呼ばれる方法もあり、こちらは電磁式と過流式の両方を搭載して計測する方法です。使い方が大きく変わるわけではありませんが、両方搭載していることで便利に使えます。磁性体でも非金属でも利用できるのが大きな違いです。非磁性塗膜に対しても使用できるため、有効な計測方法として使われることがあります。 |
膜厚計の計測機器で利用されている用途
利用された機材 | 用途 |
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デジタル膜厚計 SM1500D | ゴムライニングの膜厚測定 |
デュアルタイプ膜厚計 デュアルスコープ MP0R | 基板に塗布したヒュミシールの膜厚測定 |
渦電流式膜厚計 EDY-5000 | 工事内容 蓄熱槽 断熱防水工事 |
電磁膜厚計 L2B | 塗装の膜厚検査(自治体向け納入機器の検査用) |
電磁膜厚計 LE-300C | 橋りょう点検業務にて耐候性橋りょうの主桁に浮いている錆の厚みを計測する |
膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000II | 浄水場での防水防食工 |
膜厚計(電磁・渦電流) SWT-8000II | 共同溝内、ガス管塗膜損傷調査(SWT-8000II) |